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分析天平
- 更新時間:2016-09-04
- 產品型號:XP205
- 廠商性質:經銷商
- 產品品牌:Mettler Toledo/梅特勒托利多
- 產品廠地:北京市
- 訪問次數:1852
XP205分析天平,不尋常的稱量特性,革新性的網格秤盤,將室內(nei) 空氣氣流幹擾降至Z低.實現Z快的稱量結果顯著降低天平的穩定時間.
XP205分析天平
關鍵詞:XP205分析天平,XP205,,瑞士梅特勒,梅特勒電子天平
SmartGrid: 不尋常的稱量特性,革新性的網格秤盤,將室內空氣氣流幹擾降至低.實現快的稱量結果顯著降低天平的穩定時間.
SmartSens: 實現無需用手接觸的天平操作. 操作人員可以全神貫注的進行樣品的安全處理, 避免溢出, 並將汙染的風險小化.
SmartSens紅外感應器:SmartScreen彩色觸摸顯示屏,引導用戶正確操作,觸摸屏技術使得稱量操作異常便捷.
LevelControl:天平未被置平時發出警告,始終保證結果的準確性.
連通性:靈活的通訊接口 – 包括以太網,藍牙(無線連通)和PS/2-高效率地采集數據和簡單地整合入網絡。
去靜電裝置(可選):有效的中和樣品吸附的靜電荷從而避免樣品
XP205技術參數:
大稱量範圍 | 70 g / 101 g / 220 g |
可讀性 | 0.01 mg / 1 mg |
線性 | 0.1 mg |
重複性 | 0.015 - 0.03 mg |
靈敏度(溫度取樣泵漂移) | 1 x 10^-6/°C •Rnt |
秤盤尺寸 | 78 x 73 mm |
去皮範圍 | 0...220 g |
靈敏度精度 | 2.0 x 10^-6 •Rnt |
靈敏度穩定性 | 1 x 10^-6/a •Rnt |
穩定時間 | 1.5 s |
防風罩可用高度 | 235 mm |
外部砝碼校準 | 用戶砝碼 |
內(nei) 部砝碼校準 | ProFACT專(zhuan) 業(ye) 全自動校準技術專(zhuan) 業(ye) 級全自動校準技術, 溫度漂移和時間觸發的全自動內(nei) 校 |
尺寸 | 263x487x322 mm (DxH) |
接口 | RS-232C |
Minimum weigh (typical acc. USP) | 21 mg |
Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) | 1.4 mg |
Sensitivity offset | 2x10-6·Rnt |