光電輪廓儀

更新時間：2022-11-06
產品型號：WGL
廠商性質：經銷商
產品品牌：
產品廠地：北京市
訪問次數：3244

WGL光電輪廓儀(yi) 采用非接觸、光學相移幹涉測量方法，適用於(yu) 測量各種量塊、光學零件表麵的粗糙度；標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結構鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌；磁（光）盤、磁頭表麵結構測量；矽片表麵粗糙度及其上圖形結構測量等等。

WGL光電輪廓儀(yi)

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WGL采用非接觸、光學相移幹涉測量方法，測量時不損傷工件表麵，能快速測得各種工件表麵微觀形貌的立體圖形，並分析計算出測量結果。適用於測量各種量塊、光學零件表麵的粗糙度；標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結構鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌；磁（光）盤、磁頭表麵結構測量；矽片表麵粗糙度及其上圖形結構測量等等。
由於儀器測量精度高，具有非接觸和三維測量的特點，並采用計算機控製和快速分析、計算測量結果，本儀器適用於各級測試、計量研究單位工礦企業計量室，精密加工車間，也適用於高等院校和科學研究單位等。

WGL技術指標：

表麵微觀不平深度測量範圍
在連續表麵上，相鄰二象素之間沒有大於1 / 4 波長的高度突變時：1000 一1nm
相鄰二象素之間含有大於1 / 4 波長的高度突變時：130 一1nm
測量的重複性：δRa ≤0.5nm
物鏡倍率:40X
數值孔徑:Φ 65
工作距離:0.5mm
儀器視場目視: Φ0.25mm
攝象: 0.13×0.13mm
儀器放大倍數目視: 500×
攝象（計算機屏幕觀察）一2500×
接收器測量列陣:1000X1000
象素尺寸:5.2×5.2µm
測量時間采樣（掃描）時間:1S
儀器標準鏡     反射率（高）: ～50 %
反射率（低）: ～4 %
照明光源:白熾燈6V 5W
綠色幹涉濾光片波長:λ≒530nm
半寬度λ≒10nm
主顯微鏡升程:110 mm
工作台升程:5 mm
X 、丫方向移動範圍: ～10 mm
工作台旋轉運動範圍:360°
工作台頃斜範圍：±6°
計算機係統：P4 , 2 .8G 以上，內存1G以上17寸純平顯示器

WGL，WGL，北京總代理—慧龍環科

www.huilonghuanke.com www.bestradiationprotection.com

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