TE274微距測試卡

• 更新時間：2022-11-20
• 產品型號：
• 廠商性質：經銷商
• 產品品牌：X-Rite/美國愛色麗
• 產品廠地：北京市
• 訪問次數：2399

TE274微距測試卡設計用於(yu) 分析在微距模式下單反相機係統以及小型相機的微距鏡頭的分辨率和失真。

TE274微距測試卡                                                            

測試卡介紹                                                        

微距測試卡TE274設計用於(yu) 分析在微距模式下單反相機係統以及小型相機的微距鏡頭的分辨率和失真。
微距測試卡TE274由兩(liang) 部分組成：

斜邊用於(yu) 分辨率測量

該測試卡包含15個(ge) 斜邊結構，每個(ge) 具有兩(liang) 個(ge) 垂直和兩(liang) 個(ge) 水平

邊緣和聚焦輔助在中心。斜邊結構傾(qing) 斜5°並且具有大約97％的調製。

斜邊以一種方式布置，以在圖像高度（3：2縱橫比）的30％，45％，60％和75％處遞送軸分辨率和分辨率。

交叉圖用於(yu) 失真測量

白色背景上的黑色十字用於(yu) 確定透鏡幾何畸變（LGD）和色差。
微距測試卡TE274使用方法

將微距測試卡放在相機外的桌子上。從(cong) 測試卡的上部（斜邊）開始，將框架中的測試卡滑動到向下位置。調整相機和測試卡之間的距離，直到斜邊圖表填滿圖像高度。拍攝圖像後，將圖框滑動到上邊框。現在失真部分恰好在用於(yu) 拍攝圖像的位置。不需要重新調整或重新聚焦。

TE274微距測試卡參數: