無損卷封檢測係統

• 更新時間：2022-11-21
• 產品型號：XTS
• 廠商性質：經銷商
• 產品品牌：其他品牌
• 產品廠地：北京市
• 訪問次數：1907

XTS X射線卷封及緊密度掃描儀(yi) 係列，無損卷封檢測係統
SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀(yi) 是一款全新的，無損傷(shang) 且獨立運行的二重卷封和卷封緊密度檢測儀(yi) 器。卷封結構原自然狀態檢測，係統提高精度，節約時間，節省大量的檢測成本。
專(zhuan) 為(wei) 製罐商和罐裝廠打造的SEAMscan XTS™擁有高分辨率的卷封檢測和功能強大的緊密度自動檢測係統，儀(yi) 器結構緊湊，操作簡便。

無損卷封檢測係統，節約大量的檢測樣品

SEAMscan XTS™不需要切割就能完整檢測二重卷封內(nei) 部結構尺寸。

SEAMscan XTS™僅(jin) 不損傷(shang) 檢測樣品的優(you) 勢，就能為(wei) 製罐商和罐裝廠節約數以十萬(wan) 計的成本。經過二重卷封蓋鉤皺紋度（卷封緊密度），以及前麵提到的卷封內(nei) 部結構尺寸檢測的產(chan) 品，還能100%的用於(yu) 銷售。SEAMscan XTS™同時能達到FDA對二重卷檢測的標準。

SEAMscan XTS也是一款能*適應生產(chan) 工廠環境的二重卷封檢測工具，既實現從(cong) 卷封外部評估二重卷封質量，又節約檢測成本。

不再需要剝離拆卸卷封

質檢人員不再需要拆卸卷封來查看蓋鉤的皺紋度。SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀(yi) 自動掃描全部蓋鉤的皺紋度，測量並報告客觀的緊密度數值。

采用SEAMscan XTS™技術 X射線緊密度掃描儀(yi) ，無需人員參與(yu) 檢測，能耗更低，采用無損傷(shang) 的X射線檢測二重卷封內(nei) 部結構。

“我們(men) 在20世紀90年代就能夠通過我們(men) 的SEAMscan軟件配合投影設備檢測蓋鉤皺紋度”CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann說道,“但是那套係統僅(jin) 看到從(cong) 二重卷封上拆卸下來的蓋鉤的表麵影像。XTS不單單是在不損傷(shang) 卷封的情況下檢測蓋鉤皺紋度，檢測的詳細程度也是比傳(chuan) 統檢測方式高出很多。”

不再評估緊密度，而是測量緊密度

人為(wei) 錯誤已經成為(wei) 過去——至少在二重卷封領域。

X射線緊密度掃描儀(yi) 檢測二重卷封結構尺寸，以及精確的測量卷封內(nei) 部的皺紋度。蓋鉤皺紋度的檢測結果會(hui) 自動發送到電腦數據庫，電腦可以實時顯示卷封質量變化趨勢分析結果。

轉用的X射線穿過二重卷封，探測蓋鉤形狀的微妙變化。電腦通過程序算法分析卷封內(nei) 部各個(ge) 部位的變化情況，以確定是否對卷封的密封情況造成影響。檢測結果可以使緊密度百分比，亦或是皺紋度或緊密度平均值的形式顯示。

通過行Virtual Seam Teardown™（卷封虛擬拆卸）功能，可以看到身鉤和蓋鉤彼此疊接的真實情況，是以往無法想象的。

產(chan) 品版本

半自動版、全自動版

無損卷封檢測係統技術參數