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貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀
- 更新時間:2022-11-21
- 產品型號:LS 13 320 XR
- 廠商性質:經銷商
- 產品品牌:其他品牌
- 產品廠地:北京市
- 訪問次數:1982
貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀(yi) 是一款全自動、高分辨率、高準確性、高重現性以及操作非常簡單的幹濕兩(liang) 用粒度分析儀(yi) ,它將激光衍射粒度分析儀(yi) 提升到了一個(ge) 更高的水平。
貝克曼庫爾特新一代 LS 13 320 XR,是一款全自動、高分辨率、高準確性、高重現性以及操作非常簡單的幹濕兩(liang) 用粒度分析儀(yi) ,它將激光衍射粒度分析儀(yi) 提升到了一個(ge) 更高的水平。
升級版 PIDS 技術(發明號:4953978,5104221)真正實現10nm粒徑測量,優(you) 化的132枚檢測器保證了儀(yi) 器分辨率
幹法樣品台采用龍卷風分散技術(發明:US00645414B-1)。整個(ge) 係統不僅(jin) *粒度表征的需求,可以測量粒徑範圍更寬的顆粒(10nm-3500um),而且高分辨率+特色樣品台,不論樣品是單峰、雙峰還是多峰,不論納米、微米還是納微米,均可以更快、更可靠地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異,實現高分辨率的檢測。
132 枚檢測器,超高分辨率,準確測量細微差異
X-D陣列檢測器 - 確保微米顆粒高分辨率的準確測量
特殊設計X型對數排布檢測器陣列,可以準確記錄散射光強信號,獲得真實準確的粒度分布
132枚檢測器能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異,快速、準確的提供真實粒度分布
優(you) 化的檢測器信噪比,大大提高了檢測到散射光強譜圖細微變化的能力
PIDS技術:偏振光強度差散射 - 真正實現納米顆粒測量
傳(chuan) 統方法測量亞(ya) 微米顆粒依靠背散射光,其散射光強譜圖在形狀和強度上都非常相似,區分比較困難,因此由於(yu) 分辨率低而造成不準確的粒度測量。
亞(ya) 微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射譜圖,而這些差異便是亞(ya) 微米顆粒識別的重要信息。
PIDS技術采用了3種不同波長的光順次照射樣品,首先為(wei) 垂直偏振,然後為(wei) 水平偏振,通過分析每個(ge) 波長的水平和垂直輻射光之間的差異,便可獲得亞(ya) 微米樣品準確的粒度分布信息
升級版PIDS技術從(cong) 光源到濾波器再到檢測器都進行了全麵的升級,使得測量亞(ya) 微米顆粒的動態範圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。
ADAPT多峰樣品自動檢測,更放心
憑借業(ye) 界出眾(zhong) 的技術,無需預估樣品峰型(比如多峰、窄分布),無需選擇分析模型,輕鬆準確分析多峰樣品,讓您對測試結果更放心
準確性誤差優(you) 於(yu) ±0.5%
重複性誤差優(you) 於(yu) 0.5%
數據完整性及合規性
LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀(yi) 配備符合GMP要求的驗證程序,可滿足安裝驗證(IQ)和運行驗證(OQ)所需。
簡單、直觀的操作軟件
從(cong) 開始測量到獲得結果僅(jin) 需 2 次點擊
包含集成的光學常數數據庫
隨時向您通報有用的用戶診斷報告
精簡的工作流不僅(jin) 易於(yu) 使用,更節省時間
應用
廣泛應用於(yu) 土壤、沉積物、麵粉、澱粉、奶粉、食品添加劑、飲料、黏合劑、合金、金屬粉末、矽微粉、3D打印、塗料、顏料、藥物、礦物、紙、化妝品、煤粉、鋰離子電池材料、建材紡織、甚至生物顆粒等應用領域
擅長樣品類型:
寬分布樣品
極限顆粒(納米、>1000微米)
多峰樣品
數量微小變化